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談到FCT功能測(cè)試治具，相信大家也并不陌生，所以小編就不多做介紹了，但是近期很多朋友問(wèn)小編，F(xiàn)CT功能測(cè)試治具有什么作用，因此小編寫了這篇文章，希望能幫助到更多的朋友清楚的了解FCT測(cè)試治具的作用。
FCT功能測(cè)試治具的作用：
FCT功能測(cè)試治具是一種用來(lái)測(cè)試半制品/制品或生產(chǎn)環(huán)節(jié)中的某一個(gè)工序的，以此來(lái)檢測(cè)出產(chǎn)品是否合格，F(xiàn)CT功能測(cè)試治具使用于模仿、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路，關(guān)于每一形式需求相對(duì)應(yīng)的FCT測(cè)試治具。
MCU和嵌入式操控方式的特色在于：FCT功能測(cè)試治具可在產(chǎn)品制造生命周期不一樣期間使用，首先是工程開發(fā)期間，在體系生產(chǎn)驗(yàn)證前承認(rèn)新產(chǎn)品功用；然后在生產(chǎn)中也是有必要的，作為整個(gè)流程的一部分，經(jīng)由珍貴的體系測(cè)驗(yàn)下降缺點(diǎn)發(fā)現(xiàn)成本(遺失成本)；最后，在發(fā)貨付運(yùn)期間也是不行短少的，它可以削減在使用現(xiàn)場(chǎng)修理的用度，確保功用正常而不會(huì)被送回來(lái)。
FCT功能測(cè)試治具在檢測(cè)中起著重要的功用通路及構(gòu)造驗(yàn)證，確定沒(méi)有硬件過(guò)錯(cuò)，以補(bǔ)償前面測(cè)驗(yàn)過(guò)程中遺失的部分。
關(guān)于FCT功能測(cè)試治具的作用小編就和大家介紹到這里，希望能很好的幫助到大家解決此問(wèn)題。
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